TH2684絕緣電阻測(cè)試儀
TH2684絕緣電阻測(cè)試儀簡(jiǎn)要說明
型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件，介質(zhì)材料，設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量?jī)x器。采用大尺寸的液晶，人性化的菜單布局，使用戶可更方便的操作儀器。該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)?？蓪?shí)現(xiàn)快速測(cè)試。為實(shí)現(xiàn)快速，采取了如下措施，可選的輸入內(nèi)阻：大于10nA固定使用10k低輸入阻抗，小于10nA可選用1M內(nèi)阻測(cè)試電流。TH2684具有內(nèi)置的雙電源支持大電容的充電：TH2684具有雙路高壓電源供給，在預(yù)充電階段支持輸出高達(dá)500V200mA的電壓.并內(nèi)部支持電壓跟隨模式，并可在跟隨的基礎(chǔ)上微調(diào)電壓。保證容性材料的充電。另外，TH2684可由用戶自行編程測(cè)試步驟，多可達(dá)18步。例如可編程充電，等待，測(cè)試，放電等。每個(gè)步驟長(zhǎng)可持續(xù)100S。TH2684 的接觸檢查功能，對(duì)于電容和電纜等一樣的容性材料，接觸檢查功能能很好地判讀器件有沒接觸好，較少錯(cuò)誤測(cè)試的發(fā)生，另外接觸檢查不會(huì)增加任何測(cè)試時(shí)間。TH2684標(biāo)配RS232USBDEVICE掃描口，Handler等接口。其中Handler接口為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了方便。掃描口，則為大量元器件的測(cè)試提供了方便，用戶可以配一臺(tái)掃描儀來加快元器件的測(cè)試。
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TH2684絕緣電阻測(cè)試儀參數(shù)：
| 產(chǎn)品型號(hào)： | TH2684 |
| 絕緣電阻測(cè)試儀 |
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| 量程方式 | 自動(dòng) 保持 |
| 分選 | 四檔：（三檔合格，一檔不合格） |
| 平均次數(shù) | 1-100 |
| | | 10 kΩ– 50TΩ | | I > 100pA: 2%
I ≤ 100 pA: 精度基本等于電流測(cè)試的精度。 | |
| 存儲(chǔ)器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 |
| 工作溫度、濕度 | 10℃- 40℃，≤ 90% RH |
| 電源要求 | 90 – 130 V AC(60Hz) 或198 -260V AC(50HZ) |
| 功耗 | 250W |
| 尺寸 | 43cm * 40cm * 13cm |
| 重量 | 14kg |
| 測(cè)試電壓 | | 范圍 | | 精度 | | 源電阻 | | 電流限制 | | 開關(guān) | | 定時(shí) | | 可編程的測(cè)量延時(shí) | | 放電時(shí)間 | | | | 10 – 500V 1V步進(jìn) | | 2% ，或± 1V | | 200Ω | | 2，25，或200mA | | 在前面板上手動(dòng)打開或關(guān)閉，或通過內(nèi)置的定時(shí)器控制，或遠(yuǎn)控 | | 可編程的快速充電時(shí)間：0 - 1000s | | 0 -1000s | | t = 0.03 x Cx (in μF) ，電壓跌到測(cè)試電平的1% | |
| | | 量程1 ：10OuA – 1mA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ
量程2 ：10uA – 100uA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ 量程3 ：1uA – 10uA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ
量程4 ：100nA – 1uA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ 量程5 ：10nA – 100nA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ
量程6 ：1nA – 10nA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ或1MΩ (可選) 量程7 ：10pA – 1nA ; 輸入內(nèi)阻10 kΩ或1MΩ（可選） | | 2% ± 1pA | |
| | | 一次測(cè)量: < 100ms(包括充電)
平均多100次測(cè)量：<100 + (N-1) x 100 ms (包含充電) | | 直接讀出：100ms – 10000ms按照平均數(shù) | |
| 接口 | GPIB （選件）
RS232CSCPI命令編程支持
HANDLER接口輸出， USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support)，
USBHOST(FAT16 and FAT32 )，
掃描接口 |
